[发明专利]光器件频率响应测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种光器件频率响应测量方法，用步进频率为Δω的微波扫频信号分别对频率为ω0、ω0+Δω的第一光载波、第二光载波进行双边带电光调制，并令所生成的第一光双边带信号、第二光双边带信号分别经过待测光器件后进行光电探测，测量出对应于各扫频点nΔω处的光电流i(nΔω)、i1(nΔω)，n＝1，2，3，…，N，N为所述微波扫频信号的扫频点数；最后根据所测得的光电流获得待测光器件在频率为ω0±nΔω处的频率响应H(ω0±nΔω)。本发明还公开了一种光器件频率响应测量装置。相比现有技术，本发明可大幅简化测量系统结构，降低系统实现成本，并且可有效保证光器件的测量范围和测量精度。