[发明专利]一种基于并行探测的光学图像层析显微镜及其成像方法有效
申请号: | 202011015203.X | 申请日: | 2020-09-24 |
公开(公告)号: | CN112229319B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 王笑梅;朱媛媛 | 申请(专利权)人: | 上海师范大学 |
主分类号: | G01B9/02091 | 分类号: | G01B9/02091;G01B9/02015;G02B21/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 赵继明 |
地址: | 200234 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于并行探测的光学图像层析显微镜及其成像方法,光学图像层析显微镜包括光源、光学分束器、成像臂、参考臂、探测端、干涉信号获取单元和相位调制单元;光源发出的光经过光学分束器分为第一光束和第二光束,第一光束依次经过成像臂聚焦到被测物品上,并形成第一反射光原路返回探测端,第二光束经过参考臂反射,然后经过光学分束器到达探测端,相位调制单元设置在所述第一光束或所述第二光束的光束线路中,第一反射光和第二光束在探测端中发生干涉,并照射在干涉信号获取单元上,干涉信号获取单元用于从干涉光的每个像素中探测调幅干涉信号。与现有技术相比,本发明可以大幅度的提高信噪比。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 并行 探测 光学 图像 层析 显微镜 及其 成像 方法 | ||
【主权项】:
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