[发明专利]材料特性测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011022056.9 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112345912A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 程鹏飞;潘明华;赵振伟;李东新 | 申请（专利权）人： | 曙光信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐彩琴 |
| 地址： | 100089 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种材料特性测试方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：测试PCB组件在当前测试环境下的初始S参数；获取测试连接件在所述当前测试环境下的连接件S参数，所述测试连接件用于连接所述PCB组件和所述S参数测试设备；基于所述连接件S参数对所述初始S参数进行去嵌处理，根据去嵌处理的结果获取所述PCB组件的目标S参数。采用本方法能够提升组件的S参数的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 特性 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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