[发明专利]芯片参数的测试及校准方法在审
| 申请号： | 202011022390.4 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112147488A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 黄必亮 | 申请（专利权）人： | 杰华特微电子(杭州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市西湖区三墩镇*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出一种芯片参数的测试及校准方法，将多个芯片一同置于某个温度下，分别获取每个芯片在该温度下的参数；变换芯片测试温度，分别获取每个芯片在各个温度下的参数；根据每个芯片在各个温度下的参数，对每个芯片的参数进行修调校准，使得每个芯片的参数随温度的变化而不变，或者，使得每个芯片的参数随温度的变化维持在第一区间内。本发明可以批量校准芯片的参数，降低测试时间和成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 参数 测试 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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