[发明专利]控制电路、半导体装置在审
| 申请号： | 202011022907.X | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112821358A | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 手塚伸一 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | H02H7/122 | 分类号： | H02H7/122 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 殷明;俞丹 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能防止开关元件因热而损坏的技术。控制电路包括：第1检测电路，该第1检测电路检测驱动开关元件的驱动电路的电源电压比第1电平要低的情况；第2检测电路，该第2检测电路检测流过所述开关元件的电流比第1值要大的情况；以及异常检测电路，该异常检测电路在满足所述电源电压比所述第1电平要低、且流过所述开关元件的电流比所述第1值要大的条件的情况下，使所述驱动电路将所述开关元件截止。 | ||
| 搜索关键词： | 控制电路 半导体 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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