[发明专利]基于近场测量数据的阵列诊断方法有效

专利信息
申请号: 202011025794.9 申请日: 2020-09-25
公开(公告)号: CN112230227B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 陈耀武;林振伟;蒋荣欣;刘雪松 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01S15/89 分类号: G01S15/89;G01S15/02;G01S7/52
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 曹兆霞
地址: 310013 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于近场测量数据的阵列诊断方法,包括以下步骤:(1)平面阵列阵元接收声波入射信号,基于接收的声波入射信号构建参考阵列和待测阵列的近场波束图;(2)计算参考阵列的近场波束图和待测阵列的近场波束图之差得到差分波束图,并将差分波束图看作参考阵列与待测阵列的阵元系数差分向量与观测矩阵相乘的结果;(3)利用贝叶斯压缩感知算法求解参考阵列与待测阵列的阵元系数差分向量,从而定位到故障阵元的位置和系数,实现阵列诊断的诊断。该阵列诊断方法基于贝叶斯压缩感知的方法采用近场测量数据,将故障阵元诊断问题转化为贝叶斯概率框架下的稀疏向量求解,有效地提高了诊断的准确率和计算效率。
搜索关键词: 基于 近场 测量 数据 阵列 诊断 方法
【主权项】:
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