[发明专利]一种在轨微小空间碎片多参数测量探头及测量方法有效
| 申请号： | 202011026809.3 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112304365B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 向宏文;郝志华;李衍;孙华亮;蔡震波;张志平;戴孟瑜;秦珊珊;闫军;李怀锋 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 徐晓艳 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种在轨微小空间碎片多参数测量探头及测量方法，本发明属于空间碎片监测测量领域，涉及一种在轨被动微小碎片尺寸、速度、质量多个参数测量方法，用于航天器在轨空间碎片测量载荷。本发明的包括前后薄膜传感器、前后电荷收集电极、电荷测量放大器以及高频脉冲计数器。前后薄膜上镀有金属膜，前薄膜后、后薄膜前装有等间距电荷收集丝，收集电极与薄膜间加负直流电压，用于收集微小碎片撞击到前后薄膜产生的电荷信号。前后薄膜产生的电荷被收集电极收集，并由电荷放大器放大为电压脉冲信号，由高频脉冲计数器测量前后薄膜上的撞击信号的时间差，获得速度和方向信息。由电荷量信号获得撞击碎片能量，结合速度可以得到空间碎片的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微小 空间 碎片 参数 测量 探头 测量方法 | ||
【主权项】：
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