[发明专利]光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测方法及装置在审
| 申请号： | 202011032796.0 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN111999304A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 邵剑波;席曦;刘桂林 | 申请（专利权）人： | 江南大学 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/01;H02S50/15 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅 |
| 地址： | 214122 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测方法及装置。其包括如下步骤：步骤1、通过传送带能将硅太阳电池输送至检测位置；步骤2、检测光源所发出的光线经光纤耦合器后能分别形成参考光路与采样光路；步骤3、通过光电探测器能采集光纤耦合器输出的光学干涉信号；步骤4、将所述检测扫描信号传输至图像处理器内，图像处理器根据检测扫描信号能建立检测位置上硅太阳电池的三维结构信息；步骤5、图像处理器将所建立的三维结构信息传输至主处理器内，主处理器根据硅太阳电池的三维结构信息判断所述硅太阳电池的质量状态。本发明能有效检测确定硅太阳电池的隐裂、缺陷等不良状况，提高产品的合格率，智能化程度高，安全可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 纵向 分层 扫描 太阳电池 质量 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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