[发明专利]一种可对光电产品和半导体元件进行指标测试的设备在审
| 申请号： | 202011033665.4 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN112255525A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 王姜愉 | 申请（专利权）人： | 宁波锦锐能源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 315000 浙江省宁波市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可对光电产品和半导体元件进行指标测试的设备，包括底板和检测箱，所述底板顶部的中部与检测箱的底部固定连接，所述检测箱正表面的一侧固定连接有合页，所述箱门正表面左侧的底部固定连接有密码输入器，所述检测箱顶部的中部固定连接有半导体插槽，本发明涉及电子产品测试技术领域。该可对光电产品和半导体元件进行指标测试的设备，可以让指标测试设备具备资源回收能力，这样一来使用指标测试设备进行测试时将会让成本变的更低，而且所消耗的资源也会相应减少，从而达到降低成本而且保护自然环境的效果，让整个工作都变得更为环保和成本低，这样一来工作人员在使用指标测试设备时可以更加轻松，这利于人们进行使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 产品 半导体 元件 进行 指标 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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