[发明专利]芯片修调测试的控制方法、装置、介质及设备在审
| 申请号： | 202011034198.7 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN114280445A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 周博;李奇峰 | 申请（专利权）人： | 比亚迪半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人： | 张美君 |
| 地址： | 518119 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种芯片修调测试的控制方法、装置、介质及设备，以提升芯片修调测试的效率。所述方法包括：获取用户针对待测试芯片输入的修调测试指令；按照预设的解码逻辑，对所述修调测试指令进行解码，获得所述修调测试指令对应的目标控制逻辑，所述目标控制逻辑用于指示针对所述待测试芯片进行修调测试所使用的修调测试方式；根据所述目标控制逻辑，对所述待测试芯片的修调测试进行控制。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 控制 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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