[发明专利]光致抗蚀剂料片缺陷检测系统及其方法在审

专利信息
申请号: 202011039433.X 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN112630234A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 黄冠勋;张勋豪;李岳龙 申请(专利权)人: 由田新技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 罗英;刘芳
地址: 中国台湾新北市中*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种光致抗蚀剂料片缺陷检测系统及其方法。处理单元接收频宽范围相应的中心波长,并依据中心波长数据决定可调光束的中心波长,以使可调光束的中心波长不同于频宽范围相应的中心波长。可调波长光源装置依据中心波长发出可调光束,光致抗蚀剂料片位于可调光束的传递路径上。可调光束的第二部分穿透光致抗蚀剂料片后而形成穿透光束。成像镜头位于穿透光束的传递路径上。图像传感器具有图像感测面,穿透光束成像于图像感测面,以产生检测图像。
搜索关键词: 光致抗蚀剂料片 缺陷 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
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