[发明专利]控制装置、处理装置和控制方法在审

专利信息
申请号: 202011039465.X 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN112635283A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 及川大海;渡部翼;长谷川智也 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;刘芃茜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够抑制清洁导致的过蚀刻和膜残留的控制装置、处理装置和控制方法。本发明的一个方式的控制装置控制在处理容器内收纳基片并对其进行处理的处理装置的动作,其包括:获取上述处理容器内的温度的温度获取部;存储部,其存储表示上述处理容器内的温度与蚀刻速度的关系的关系信息和包含上述处理容器内的沉积膜的累积膜厚的膜厚信息;速度计算部,其基于上述温度获取部获取到的上述温度和存储于上述存储部中的上述关系信息来计算上述沉积膜的蚀刻速度;以及时间计算部,其基于上述速度计算部计算出的上述蚀刻速度和存储于上述存储部中的上述膜厚信息来计算用于除去上述沉积膜的蚀刻时间。
搜索关键词: 控制 装置 处理 方法
【主权项】:
暂无信息
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