[发明专利]一种干式空心电抗器绝缘薄膜老化性能的测试方法在审
| 申请号： | 202011040705.8 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112305339A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 林浩;倪学锋;姜胜宝;国江;黄想 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网河南省电力公司;国网河南省电力公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01N17/00;G01R31/12;G01R27/02;G01R27/26;G01N3/28 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 刘海蓉 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种干式空心电抗器绝缘薄膜老化性能的测试方法，包括如下步骤：对第一绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第一测试结果。将第一绝缘薄膜置于测试装置的容纳腔中。将容纳腔中的温度调节至绝缘薄膜的最高允许温度，将容纳腔中的湿度调节至绝缘薄膜的最高允许温度下的饱和湿度，老化第一预设时长M1。将第一绝缘薄膜从容纳腔中取出。对从容纳腔中取出的第一绝缘薄膜的电气性能和机械性能进行测试，得到第二测试结果。根据第一测试结果和第二测试结果，确定干式空心电抗器绝缘薄膜在老化时间为第一预设时长M1下的老化性能。本申请的测试方法获取了最严酷条件下的干式空心电抗器绝缘薄膜老化性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空心 电抗 绝缘 薄膜 老化 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网河南省电力公司;国网河南省电力公司电力科学研究院，未经中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网河南省电力公司;国网河南省电力公司电力科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011040705.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
