[发明专利]一种LED芯片测试驱动电路、制作方法及芯片测试方法在审

专利信息
申请号: 202011041118.0 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN112201646A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 申凤仪;申广 申请(专利权)人: 申广
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L21/66
代理公司: 苏州中合知识产权代理事务所(普通合伙) 32266 代理人: 阮梅
地址: 116000 辽宁省大*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及一种LED芯片测试驱动电路、制作方法及芯片测试方法。LED芯片测试驱动电路包括若干P电极层、若干N电极层、若干P电极电路及若干N电极电路,用于将LED芯片阵列中同列芯片的P电极电连接并引出统一接线端以及同行LED芯片的N电极电连接并引出统一接线端。本发明通过在完成LED芯片制作的LED晶圆上直接制作LED芯片测试驱动电路,可通过外接无源选址驱动扫描电信号、以无源选址驱动模式快速逐点测试LED晶圆上的LED芯片,不需要点测机,可节约巨额的设备投资,极大的降低芯片测试成本,同时大幅度提高芯片测试能力、芯片测试速度,进而可大幅度降低芯片生产成本、提高芯片生产效率。
搜索关键词: 一种 led 芯片 测试 驱动 电路 制作方法 方法
【主权项】:
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