[发明专利]一种多路并行老化测试装置在审
| 申请号： | 202011044173.5 | 申请日： | 2020-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN112345906A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 曾扬扬 | 申请（专利权）人： | 杭州大和热磁电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 郑汝珍 |
| 地址： | 310051 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多路并行老化测试装置，包括外壳，所述外壳上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构(2)，所述外壳侧面设有开关、计时器和蜂鸣器，外壳内部设有控制器。上述技术方案通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，且使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 并行 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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