[发明专利]一种荧光检测光路系统及分光结构在审

专利信息
申请号: 202011047168.X 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN114324262A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 朱守明;张鑫 申请(专利权)人: 安徽皖仪科技股份有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230088 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种该荧光检测光路系统及分光结构,该荧光检测光路系统包括光源、准直镜片、光源滤光片、棱镜片组、二向色镜、荧光相机。其中,准直镜片设于光源的后级光路中;光源滤光片设于准直镜片的后级光路中;棱镜片组设于光源滤光片的后级光路中;二向色镜设于棱镜片组的后级光路中;荧光相机设于样本试剂的上方。本发明的分光结构包括多个棱镜片组。本发明的荧光检测光路系统能够提高样本试剂的检测效率,相应的,该分光结构能够将激发光分成多束光强相等的光束,满足大通量样本试剂的检测需求。
搜索关键词: 一种 荧光 检测 系统 分光 结构
【主权项】:
暂无信息
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