[发明专利]一种基于像素型电离室的质子束流截面测量装置在审
申请号: | 202011048718.X | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN112213764A | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 王哲 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01T1/34 | 分类号: | G01T1/34;G01T1/29;G01T7/00 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 卓凡 |
地址: | 10241*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于像素型电离室的质子束流截面测量装置,包括电离室机构、电子学机构、计算机测量结果显示机构;所述电离室机构工作时布设于治疗室内、被安放在治疗床的与旋转机架治疗头相对应的位置上、并通过有线方式与电子学机构相连接,该电离室机构用于在整机测试的物理模式下测量治疗头发出的束流与预设点的偏离位置、以及用于在整机测试的物理模式下测量一个M*N区域内束流信号的分布情况;本发明用像素型电离室替代了现有技术的胶片+扫描仪取得了预料不到的效果,相比现有技术胶片测量方法,处理速度快,即时显示结果,10分钟即可完成全部操作,满足了临床的需求,且像素型电离室可以重复使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 像素 电离室 质子 截面 测量 装置 | ||
【主权项】:
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