[发明专利]半导体器件及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202011052596.1 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN112582405A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 林诗哲;黄柏瑜;王朝勋;赵高毅;王美匀;张峰瑜;林睿哲;林威戎;高承远 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L27/092;H01L21/8234;H01L21/8238
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明的实施例涉及半导体器件及其形成方法。示例性互连结构包括设置在介电层中的第一源极/漏极接触件和第二源极/漏极接触件。第一源极/漏极接触件物理接触第一源极/漏极部件,并且第二源极/漏极接触件物理接触第二源极/漏极部件。具有第一通孔层配置的第一通孔、具有第二通孔层配置的第二通孔和具有第三通孔层配置的第三通孔设置在介电层中。第一通孔和第二通孔分别延伸至第一源极/漏极接触件和第二源极/漏极接触件并且物理接触第一源极/漏极接触件和第二源极/漏极接触件。第一通孔的第一厚度和第二通孔的第二厚度相同。第三通孔物理接触栅极结构,栅极结构设置在第一源极/漏极接触件和第二源极/漏极接触件之间。
搜索关键词: 半导体器件 及其 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
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