[发明专利]内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路在审
| 申请号： | 202011054017.7 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN113049129A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 申浚熙;金柱成;李龙珍;崔炳注;金光镐;金赏镐 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01;G01K15/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周祺 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种温度测量电路，包括：带隙基准电路，被配置为生成与工作温度无关的固定的带隙基准电压；基准电压生成器电路，被配置为通过调整所述带隙基准电压生成测量基准电压；感测电路，被配置为基于偏置电流生成温变电压，其中，所述温变电压根据所述工作温度变化；模数转换器电路，被配置为基于所述测量基准电压和所述温变电压生成指示所述工作温度的第一数字代码；以及模拟内置自测试(BIST)电路，被配置为生成多个标志信号，其指示所述带隙基准电压、所述测量基准电压和与所述偏置电流相对应的偏置电压中的每一个是否包括在预定范围内。 | ||
| 搜索关键词： | 内置 测试 电路 包括 温度 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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