[发明专利]低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法在审
| 申请号： | 202011055292.0 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114353967A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 邱超;孙红胜;王加朋;吴柯萱;翟思婷;郭亚玭;杜继东 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01J5/80 | 分类号： | G01J5/80;G01J5/53 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法，其中，所述低温真空辐射温度参数校准系统包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其对应所述红外温差辐射发射装置设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外辐射；准直光学装置，其设于所述真空冷舱内，用于接收所述第一红外辐射并将所述第一红外辐射准直处理后发射至目标红外载荷，以供所述目标红外载荷进行噪声等效温差校准和/或最小可分辨温差校准和/或最小可探测温差校准。解决了在轨空间的辐射温度参数难以校准，测试数据准确度无法评定，使得红外载荷低温红外目标探测性能测试产生了隐患的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 真空 辐射 温度 参数 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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