[发明专利]一种本质安全的扫描式光学氢气泄漏监测方法在审
| 申请号： | 202011056360.5 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN112461452A | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 苗扬;李跃娟;张筱璐;陈茜;王凯;张蒙;陈寅飞;姚璐峤 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01M3/04 | 分类号： | G01M3/04;G01N21/41 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 沈波 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种本质安全的扫描式光学氢气泄漏监测方法，属于高压氢气监测技术领域。首先用激光源发出光线并形成平行光，平行光照射待储氢罐表面。当储氢罐内的高压氢气发生泄漏时，光线会形成132°的扇形发射区，运用CCD相机对其进行拍照并且记录下扇形发射区的图像，将记录的图像进行数字图像处理，根据处理后的图像判断泄漏口的位置以及大小。当高压氢气没有发生泄漏时，平行光会直接通过待测物体表面，CCD相机拍下的图片中没有扇形发射区。本方法简单检测方便，克服了一般传感器缺乏针对性的可能，整个检测方法更加的安全。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 本质 安全 扫描 光学 氢气 泄漏 监测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学，未经北京工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011056360.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
