[发明专利]一种多路并行光模块平面度检测装置在审
| 申请号： | 202011059245.3 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN112414359A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 舒政;王卓跃;金本平 | 申请（专利权）人： | 武汉恒泰通技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙) 42257 | 代理人： | 徐杨松 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市江夏区东湖新技*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多路并行光模块平面度检测装置，包括工作台、驱动组件、弹性推动组件和电动推杆，工作台中部开设有阶梯孔，阶梯孔的内部滑动设有滑板，滑板的顶部设有两个挡块，驱动组件设置在工作台的底部且与滑板的底部传动连接，驱动组件以驱动滑板在阶梯孔的内部滑动，滑板顶部的两侧设有平行于工作台的辅助板，弹性推动组件为两个且设置在工作台顶部，两个弹性推动组件对辅助板朝贴合工作台的方向进行弹性挤压，电动推杆位于一个弹性推动组件的顶部，电动推杆的输出端通过管束设有平面度检测仪。本发明保证滑板在阶梯孔的内部平稳滑动，提高滑板在滑动时的稳定性，从而提高光模块在平面检测时的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 并行 模块 平面 检测 装置 | ||
【主权项】：
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