[发明专利]检测光学元件运行条件的方法、执行该方法的系统及设有该系统的激光处理机械在审
| 申请号： | 202011062186.5 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN112676695A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 毛里齐奥·斯贝蒂;达维德·甘多尔菲;马蒂亚·瓦宁 | 申请（专利权）人： | 艾迪奇股份公司 |
| 主分类号： | B23K26/00 | 分类号： | B23K26/00;B23K26/70 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 王富强 |
| 地址： | 意大利特兰托*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于检测激光处理材料的机械的处理头(14)中沿着功率激光束(B)的传播光路布置的至少一个光学元件(16)的运行条件的方法和系统，包括以下步骤：a)获取指示以激光束(B)的波长与光路同轴反向传播的光辐射的信号；b)获取指示以近红外的波长与光路同轴反向传播的光辐射的信号；c)获取指示由光学元件(16)发射的红外光辐射的信号；d)获取随声波射过光学元件(16)体积的渡越时间变化的信号或数据；e)计算红外光辐射的归一化信号；f)计算真实红外光辐射信号；以及g)根据真实红外光辐射信号、指示以近红外波长反向传播的光辐射的信号和指示以激光束(B)的波长反向传播的光辐射的信号，计算指示光学元件(16)的运行条件的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 光学 元件 运行 条件 方法 执行 系统 设有 激光 处理 机械 | ||
【主权项】：
暂无信息
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