[发明专利]检查系统和方法在审
| 申请号： | 202011071082.0 | 申请日： | 2020-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN112595755A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | V·V·纳拉德加;C·S·莱斯特;M·马霍尼 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72;G01N1/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 郑浩;姜冰 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种检查系统包括一个或多个处理器以及可操作地耦合到一个或多个处理器的红外(IR)拍摄装置。一个或多个处理器控制微波发射器在第一扫频期间将具有所指定的频率范围内的不同频率的微波依次发射到对象中。IR拍摄装置在通过微波的不同频率中的每个频率来加热对象之后生成对象的热图像数据。一个或多个处理器分析热图像数据，并且确定所指定的频率范围内的所选频率，与所指定的频率范围中的一个或多个其他频率相比，所述所选频率提供对所述对象的更大的加热。一个或多个处理器还响应于通过微波的所选频率对所述对象的加热而分析所述对象的选择热图像数据，以检测所述对象中的元素。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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