[发明专利]位移测量装置有效
| 申请号： | 202011073288.7 | 申请日： | 2020-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN112697176B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 松下昌辉;安达聪 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01D5/249 | 分类号： | G01D5/249;G01D5/245;G01B7/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了使不必要的电力消耗最小化并改善电力效率的位移测量装置。位移测量装置包括：主标尺；以及检测头，其以相对于主标尺可相对位移的方式设置，并输出具有根据相对于所述主标尺的相对位移而改变的相位的周期信号。检测头输出作为周期信号的、具有粗周期的粗刻度信号和具有细周期的密刻度信号。粗相位检测器根据从粗刻度信号获取的两个相位信息来计算粗刻度信号的平均相位。密相位检测器根据从密刻度信号获取的四个相位信息来计算密刻度信号的平均相位。粗相位检测器根据这两个相位信息来计算粗刻度信号的平均相位，然后在没有完成密相位检测器的操作的情况下停止操作。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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