[发明专利]自动折射仪计量校准装置及其使用方法有效
申请号: | 202011077177.3 | 申请日: | 2020-10-10 |
公开(公告)号: | CN112198138B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 丁海铭 | 申请(专利权)人: | 丁海铭 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 于歌 |
地址: | 150040 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 自动折射仪计量校准装置及其使用方法,涉及计量校准技术领域。本发明是为了解决目前自动折射仪无法有效计量校准,测量结果缺乏可溯源性,从而使自动折射仪的测量结果不准确可靠的问题。自动折射仪计量校准装置,包括:折射率校准块和折射率校准块配套支架;折射率校准块包括溯源端和校准端;溯源端为长方体或三棱柱,校准端为圆柱体或长方体,溯源端与校准端同轴一体连接。配套支架主体结构的形状为圆柱体,配套支架沿其轴向设有通孔,通孔横截面的形状与溯源端的端面形状一致;配套支架的一个端面上设有两个水平仪,两个水平仪相互垂直。该发明应用于制药、香料、化工和石油等工业生产、质量检验使用的自动折射仪的质量控制及计量溯源。 | ||
搜索关键词: | 自动 折射 计量 校准 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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