[发明专利]一种基于高光谱的米粒品质功能基因解析方法有效
| 申请号： | 202011082262.9 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112595675B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 杨万能;冯慧;宋京燕;李平波;何予卿;宋鹏;叶军立;熊立仲;陈国兴 | 申请（专利权）人： | 华中农业大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/78;G01N21/84;G01N31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于高光谱的米粒品质功能基因解析方法，包括：使用高光谱成像系统采集米粒图像并进行图像处理，获取光谱指数；使用化学方法人工测定米粒的蛋白质含量和直链淀粉含量，作为人工测量值；光谱指数与人工测量值相关性分析与建模；光谱指数作为基于图像信息的表型性状进行全基因组关联分析，获取相关的候选基因；候选基因的功能验证。米粒品质的传统人工检测为有损测量，该方法基于高光谱获取米粒表型数据信息，结合光谱与图像处理技术可实现米粒品质相关指标的无损检测，提高检测精度，同时提高GWAS分析结果的准确度。此外，该方法结合遗传转化对候选基因进行功能验证，使验证结果更具有说服力，可为水稻品质育种提供新材料。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 米粒 品质 功能 基因 解析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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