[发明专利]一种晶圆级、高质量的氮化硼/石墨烯异质结薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202011087287.8 申请日: 2020-10-12
公开(公告)号: CN112159970B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 胡平安;杨慧慧;谭必英;张士超;苏震;刘得昌;汪礼丽 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: C23C16/26 分类号: C23C16/26;C23C16/34;C23C16/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开了一种晶圆级、高质量的氮化硼/石墨烯异质结薄膜的制备方法;它的制备方法为:步骤一:通过表面催化生长方法,在金属表面制备出连续的六方氮化硼薄膜;步骤二:通过等离子体刻蚀技术,将金属箔片一侧表面处的六方氮化硼薄膜除去;步骤三:将该金属箔片折叠为袋状进行密封;步骤四:将该金属袋置于管式炉中,升高到一定温度并通入高浓度含碳气体,实现碳原子由外表面向内表面的扩散,并在降温过程中析出,在金属与六方氮化硼界面处生成石墨烯;步骤五:将该金属袋剪开并水平铺开,转移至目标衬底表面,即可得到六方氮化硼/石墨烯垂直异质结薄膜。本发明的制备工艺适用性高,工艺参数窗口较宽;相比传统通过外延或扩散方式来制备异质结的方法,本方法有效避免原子间的掺杂现象,同时可获得晶圆级,高质量的垂直氮化硼/石墨烯异质结薄膜。
搜索关键词: 一种 晶圆级 质量 氮化 石墨 烯异质结 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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