[发明专利]绝缘子形变测量方法、装置和系统有效
| 申请号： | 202011088792.4 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN112461146B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 柯磊;陈城;周伟才;刘丙财;裴慧坤;魏前虎;林国安;杨兴;胡燮;林华盛;王晨;刘如海;焦康;许海源;蔡祖建;黄锦龙;白岩石;舒铭杰;王泽林 | 申请（专利权）人： | 深圳供电局有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16;G01L1/24 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 纪婷婧 |
| 地址： | 518001 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种绝缘子形变测量方法、装置和系统。该方法包括：获取对传感光纤采集得到的散射光信号；该传感光纤置于绝缘子芯棒内；对散射光信号进行分析处理，得到入射光频率数据和散射光频率数据；将该入射光频率数据和该散射光频率数据代入绝缘子形变计算公式，计算得到绝缘子形变；该绝缘子形变计算公式根据绝缘子芯棒的微元应变推导得出，表征入射光频率、散射光频率和绝缘子形变的对应关系。该绝缘子形变测量方法，无需任何有源器件暴露于恶劣环境中，只需在绝缘子芯棒内部植入传感光纤，便可以完成绝缘子形变的测量，不易受到外部干扰的影响，可靠性高。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子 形变 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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