[发明专利]基于天体跟踪扫描的指向性天线角度快速标校方法有效
| 申请号： | 202011094304.0 | 申请日： | 2020-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN112325840B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 郭永强;张国亭 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军63921部队 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01R29/10;G01B7/30 |
| 代理公司： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 | 代理人： | 陆鑫;延慧 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于天体跟踪扫描的指向性天线角度快速标校方法，包括：S1.获取天线波束指向的预报方位角和预报俯仰角；S2.通过预设的时间点在所述预报方位角或所述预报俯仰角对天体目标进行扫描；S3.获取不同所述预报方位角或所述预报俯仰角下的所述天体目标的辐射噪声强度；S4.获取所述辐射噪声强度中的最大辐射噪声强度，并获取与所述最大辐射噪声强度相对应的叠加方位角或叠加俯仰角；S5.迭代重复执行步骤S2至S4，判断获取的所述叠加方位角和所述叠加俯仰角是否同时满足标校精度，若满足，则完成所述天线波束指向的方位角或俯仰角的标校。本发明的成本低，且不易受天气状况的影响，可全天侯工作。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 天体 跟踪 扫描 指向 天线 角度 快速 校方 | ||
【主权项】：
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