[发明专利]基于公共切片子序列的轨迹特征异常检测方法有效

专利信息
申请号: 202011094683.3 申请日: 2020-10-13
公开(公告)号: CN112230253B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 牛新征;刘鹏飞;何玲;郑云红;刘翔宇;杨胜瀚;匡洁良 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S19/39 分类号: G01S19/39;G01C21/20;G06F17/15
代理公司: 成都正煜知识产权代理事务所(普通合伙) 51312 代理人: 李龙
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及信息技术处理技术领域,提供了一种基于公共切片子序列的轨迹特征异常检测方法。解决传统方法仅仅考虑公共部分的情况下,会容易把异常的轨迹误认为成正常的轨迹。主要方案包计算两轨迹间非公共部分的差异D′,判断两轨迹非公共部分的差异小于差异判别阈值,且最长公共部分占整条轨迹的比例超过阈值,则两轨迹特征相似;判断轨迹集中与当前轨迹特征相似的其他轨迹数占轨迹集中所有轨迹数的比值超过阈值,则代表当前轨迹为特征正常轨迹,否则特征异常轨迹。
搜索关键词: 基于 公共 切片 序列 轨迹 特征 异常 检测 方法
【主权项】:
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