[发明专利]一种大电流低漏电碳化硅二极管芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202011098760.2 申请日: 2020-10-14
公开(公告)号: CN112151621A 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 田李庄 申请(专利权)人: 济南新芯微电子有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 山东明宇知信知识产权代理事务所(普通合伙) 37329 代理人: 钟文强
地址: 250000 山东省济南市*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供了一种大电流低漏电碳化硅二极管芯片及其制作方法,由下至上依次叠设背面电极、衬底、N‑型外延层、P+型外延层和正面电极,背面电极、衬底和N‑型外延层的规格相一致,三者相贴覆叠置,P+型外延层规格小于N‑型外延层规格,P+型外延层位于N‑型外延层的中间位置,P+型外延层的外周露出N‑型外延层形成N结构区域,正面电极的规格小于P+型外延层的规格,N结构区域由下至上依次覆盖钝化层、覆聚酰亚胺层。本发明利用碳化硅双层外延方法和等离子刻蚀方法实现,避免了离子注入产生的缺陷。本二极管芯片的尺寸可以做很大,实现100A以上产品制作。同时还具有操作简单、生产效率高、可靠性好等特点。
搜索关键词: 一种 电流 漏电 碳化硅 二极管 芯片 及其 制作方法
【主权项】:
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