[发明专利]一种相位随机性测试装置与方法有效
| 申请号： | 202011101225.8 | 申请日： | 2020-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN112364998B | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 陈柳平;王其兵;万相奎 | 申请（专利权）人： | 国开启科量子技术（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06N10/00 | 分类号： | G06N10/00;G01M11/02;H04B10/508 |
| 代理公司： | 北京威禾知识产权代理有限公司 11838 | 代理人： | 沈超 |
| 地址： | 100097 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种相位随机性测试装置与方法，所述装置包括干涉模块、相位调节模块、探测采集模块和分析模块，所述干涉模块与待测光源连接，将待测光源发出的相位随机的原始脉冲光信号分束为多束光信号，使所述多束光信号发生干涉以获取干涉光信号；所述相位调节模块设置在干涉模块的第一臂光路中，根据相位调节策略调节经所述第一臂传输的光信号相位；所述探测采集模块探测并采集所述干涉光信号，以获得干涉光信号在不同相位时的峰值幅值最大值；所述分析模块基于采集到的不同相位的峰值幅值最大值，按照预置分析策略得到用以确定相位随机性的测试曲线。通过本发明所述的装置和方法可以测试待测光源发出的脉冲光的相位随机性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 随机性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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