[发明专利]一种磁性颗粒饱和磁化强度的测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 202011101448.4 | 申请日： | 2020-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN112345986A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 张文晖;朱荣耀;夏洁 | 申请（专利权）人： | 天津科技大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300457 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种磁性颗粒饱和磁化强度的测量装置和测量方法。测量装置由分析天平、玻璃防风罩、支撑架、称量盒、磁铁、支撑板、旋转柱和支撑柱组成；玻璃防风罩安装在分析天平上，玻璃防风罩为四面防风，无顶面；支撑架固定在分析天平的称量盘上；称量盒放在支撑架上；支撑板安装在旋转柱上，支撑板上安装磁铁。测量方法是把支撑板旋离玻璃防风罩上方，放入空称量盒，去皮；往称量盒中放入少量样品，把称量盒放在支撑架上，且位于磁铁正下方，称量得到样品质量，去皮；旋转支撑板至支撑柱上，稳定后读取天平数值；根据装置设计参数，确定样品的饱和磁化强度。该装置具有设计简单紧凑，制造成本低和操作简便的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁性 颗粒 饱和磁化强度 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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