[发明专利]一种MOSFET器件本征特性参数的描述模型及参数辨识方法有效

专利信息
申请号: 202011104826.4 申请日: 2020-10-15
公开(公告)号: CN112232008B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 陈曦;黄亿;席磊 申请(专利权)人: 三峡大学
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 吴思高
地址: 443002 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种MOSFET器件本征特性参数的描述模型及参数辨识方法,该描述模型为对PN结结电容偏置电压的分数阶模型该描述模型的参数辨识方法是一种基于差分进化算法的分数阶多目标离线参数辨识方法,该方法包含以下步骤:1)根据某种型号MOSFET的数据手册获得结电容容值随偏置电压变化的数据;2)根据分数阶模型得到的结电容随偏置电压关系;3)将分数阶模型CE与数据手册中对应容值的平均绝对百分比误差作为基于差分进化的参数辨识方法的目标函数进行数据拟合。本发明所提描述模型能够准确地描述MOSFET器件本征特性参数PN结结电容随偏置电压变化曲线,从而能够为含有该类元件的电路系统设计与可靠性分析提供参考依据。
搜索关键词: 一种 mosfet 器件 特性 参数 描述 模型 辨识 方法
【主权项】:
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