[发明专利]硬件测试方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011119729.2 | 申请日： | 2020-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN112181749A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 张雪梅 | 申请（专利权）人： | 龙尚科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区自由*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硬件测试方法、装置、电子设备和存储介质，其中，该方法包括：根据获取的入参场景确定待测硬件对应应用程序接口API的API种类和API调用顺序；通过所述API种类和所述API调用顺序在预设测试表单中依次调用接口测试用例测试所述待测硬件；在预设界面展示所述待测硬件的测试结果。本发明实施例的技术方案，通过入参场景确定待测硬件需要测试的API种类和API调用顺序，并获取对应的接口测试用例进行硬件测试，减少了测试用例的重复设计时间，提高了硬件测试效率，辅助客户快速还原应用场景，降低故障定位的难度，提高问题定位效率，可增强用户体验程度。 | ||
| 搜索关键词： | 硬件 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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