[发明专利]用于旋转机器中的光学测量的系统和方法在审
申请号: | 202011121246.6 | 申请日: | 2020-10-19 |
公开(公告)号: | CN112747684A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 库尔特·克莱默·施莱夫;安德鲁·大卫·埃利斯 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14;G01B11/24;G01P3/36;F01D21/00;F04D27/00;F02C3/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱铁宏;金飞 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明题为“用于旋转机器中的光学测量的系统和方法”。本发明提供了一种系统,该系统具有测量系统(27),该测量系统具有传感器安装架(82)、光源(16)、光传感器(18)以及耦接到光源(16)和光传感器(18)的控制器(14)。控制器(14)被配置为至少部分地基于从光源(16)发射到光传感器(18)的光(120)的中断来确定转子(46)与壳体(48)之间的间隙。 | ||
搜索关键词: | 用于 旋转 机器 中的 光学 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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