[发明专利]光学装置及光学式测量机在审
| 申请号： | 202011123065.7 | 申请日： | 2020-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN112764184A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 根本贤太郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G02B7/02 | 分类号： | G02B7/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学装置和光学式测量机。光学装置(10)有：第1透镜保持件(4)，其保持准直透镜(21)；第2连结块(7)，其支承第1透镜保持件；第2透镜保持件(6)，其支承光成形透镜(22)；圆柱状的辊(9)，其夹在第2连结块和第2透镜保持件之间且沿X轴方向配置；以及一对调整螺钉(82)，其配置为在Y轴方向上隔着光轴且将第2透镜保持件和第2连结块相互固定。在第2连结块和第2透镜保持件的彼此相对的各端面(64、74)沿X轴方向形成有隔着辊地配置的字母V形的槽(65、75)，调整螺钉有以能相对于第2透镜保持件沿X轴方向移动的方式卡合于该第2透镜保持件的头部和与第2连结块螺纹结合的轴部。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 装置 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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