[发明专利]一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备

摘要

本发明涉及半导体分立器件制造技术领域，且公开了一种半导体分立器柱形电容的制造用检测设备，包括底座，所述固定盘的内部左侧设置有弧形铁片，弧形铁片的右侧设置有与检测针对应的线圈，固定盘的内部右侧设置有矩形磁块，螺纹盘的上部连接有滑动磁块，主转盘的上侧设置有导向管，导向管的左上方设置有弧形磁块。通过主转盘转动带动从动盘转动，且同时与固定盘相互摩擦，从而通过摩擦力带动从动盘自转，从动盘通过其上的支撑杆带动电容转动，且保证在对应的弧形铁片的范围内转动一圈，进一步使得引脚与检测针连通一次，从而避免损坏的电容受到弧形铁片磁性的影响，从而保证在主转盘的左前方完成对电容是否通电的检测。