[发明专利]纳入面内与面外统一拘束的结构完整性评定方法在审

专利信息
申请号: 202011133355.X 申请日: 2020-10-21
公开(公告)号: CN112287577A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 王国珍;王雨涵;涂善东;轩福贞 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06F119/02;G06F119/14
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种纳入面内与面外统一拘束的结构完整性评定方法,包括:建立材料的标称断裂韧性与统一拘束参数的关联式;统一拘束参数为其它试样或待评定结构的裂纹尖端张开位移与参考试样在断裂载荷时的裂纹尖端张开位移值的比值;对结构几何尺寸和缺陷尺寸进行表征;确定结构极限载荷和不同载荷比下的统一拘束参数;构建缺陷的失效评定图;确定每个载荷比下的评定点坐标以形成加载路径线;在计算评定点坐标的断裂比时,通过将不同载荷比下的拘束参数代入关联式中,确定材料拘束相关的断裂韧性;进行缺陷安全性评定与断裂预测。本发明的评定方法提出基于裂尖张开位移的统一拘束参数,使面内拘束和面外拘束统一,便于工程计算和应用并提高评定精度。
搜索关键词: 纳入 统一 拘束 结构 完整性 评定 方法
【主权项】:
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