[发明专利]一种用于阵列传感器的二维卷积降噪方法在审
申请号: | 202011136323.5 | 申请日: | 2020-10-22 |
公开(公告)号: | CN112307424A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 于永爱;姚志湘;粟晖;陈娟;方凤 | 申请(专利权)人: | 上海如海光电科技有限公司 |
主分类号: | G06F17/15 | 分类号: | G06F17/15;G06F17/16;G01J3/28 |
代理公司: | 北京君泊知识产权代理有限公司 11496 | 代理人: | 王程远 |
地址: | 200135 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种用于阵列传感器的二维卷积降噪方法,包括,获取阵列传感器的响应值,以反映光谱波长或波数的数据h的方向为横向,以波长所对应的光谱响应值g的方向为纵向,得到尺寸为g×h的矩阵A;所述阵列传感器包括线阵列传感器和面阵列传感器;分别选择所述横向的横向滤波向量HB和所述纵向的纵向滤波向量ZB,将所述横向滤波向量HB和纵向滤波向量ZB相乘,得到卷积矩阵B;根据步骤1得到的矩阵A,将矩阵A扩展处理为矩阵AE,然后计算矩阵AE和步骤2得到的矩阵B的二维卷积,得到矩阵C;所述矩阵C的计算公式为:C=conv2(AE,B);将矩阵C的横向和纵向进行切除处理保留余下的g×h个元素,作为降噪处理结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 阵列 传感器 二维 卷积 方法 | ||
【主权项】:
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