[发明专利]光栅耦合器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011143700.8 申请日: 2020-10-23
公开(公告)号: CN112230339A 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 肖志雄;冯俊波;胡志朋;邵斯竹;吴月;朱兴国;郭进 申请(专利权)人: 联合微电子中心有限责任公司
主分类号: G02B6/136 分类号: G02B6/136;G02B6/138;G02B6/124
代理公司: 江苏坤象律师事务所 32393 代理人: 赵新民
地址: 401332 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供了一种光栅耦合器及其制备方法,本发明的光栅耦合器的制备方法包括如下步骤:提供SOI衬底,所述SOI衬底自下而上包括硅衬底层、二氧化硅中间层以及硅顶层;刻蚀所述硅顶层形成第一耦合光栅;在所述硅顶层上形成Poly‑Si层;刻蚀所述Poly‑Si层形成第二耦合光栅;所述第二耦合光栅与所述第一耦合光栅错位堆叠。本发明的光栅耦合器通过在硅顶层上形成Poly‑Si层减小光栅耦合器的插入损耗,再通过第二耦合光栅与所述第一耦合光栅偏移设计,进一步减小插入损耗,并且偏移设计可以提高光栅制备工艺的容差。
搜索关键词: 光栅 耦合器 及其 制备 方法
【主权项】:
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