[发明专利]接触式局部曲率特征的测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011144783.2 申请日: 2020-10-23
公开(公告)号: CN112525130B 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 吴丹;任昊;张继文;陈恳;王国磊;徐静 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张大威
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种接触式局部曲率特征的测量方法及系统,其中,方法包括:利用接触式压紧环面与工件特定待加工位置接触;利用距离传感器阵列获取当前工件环面周围的几个待测点的距离信息,并根据距离信息计算当前曲面的朝向特征,其中,朝向特征包含待测量点位局部法向矢量方向;使用法向矢量、距离传感器分布特征和测量示值计算当前压紧环面对应工件曲面的曲率特征,其中,曲率特征包含主曲率半径、主曲率朝向、平均曲率、高斯曲率,以利用二次曲面拟合局部曲面。本申请实施例的接触式局部曲率特征的测量方法,通过末端机构上的距离传感器阵列测量工件曲率特征,可以提升现有自动化加工设备在工件刚性较弱、形貌未知等复杂工况下加工的精度和效率。
搜索关键词: 接触 局部 曲率 特征 测量方法 系统
【主权项】:
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