[发明专利]基于单光频梳干涉的光纤时延测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于单光频梳干涉的光纤时延测量方法，将窄线宽激光器输出的光载波分为两路，其中一路光载波经由光频梳调制器调制为光频梳信号后，送入接有待测光纤的干涉仪，另一路光载波进行移频处理；将移频处理后的光载波与干涉仪输出的光信号耦合后进行光电探测，得到携带时延信息的微波信号；将所述微波信号的频谱信息提取出来，再从中提取出干涉频谱的自由频谱范围，并根据干涉频谱的自由频谱范围解算出待测光纤的时延。本发明还公开了一种基于单光频梳干涉的光纤时延测量装置。相比现有技术，本发明具有测量稳定度高，测量速度快，结构简单，实现成本低的优点。