[发明专利]一种大口径光学遥感器双扩束级联偏振测试系统有效

专利信息
申请号: 202011148624.X 申请日: 2020-10-23
公开(公告)号: CN112362307B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 崔程光;李凌;伏瑞敏;杨居奎;王玉诏;郭永祥;贾馨;冀翼;陈宗;李梦旭;刘君航;于宗伟 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 刘秀祥
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种双扩束级联的大口径光学遥感器偏振测试系统,通过一级扩束系统严格控制偏振组件入射面角度,实现高精度偏振调制,突破传统偏振测试受限于偏振组件工艺水平的难题;然后通过二级离轴反射式扩束系统实现大口径偏振光束输出,实现全口径、全光路的偏振测试,满足大口径光学遥感器的偏振测试需求。采用双扩束级联方式,降低偏振调制误差,提高出射光束的消光比,进而提高偏振测试精度;而且级联的二级扩束系统可进一步实现大口径光学遥感器相机的全口径、全光路高精度偏振测试,定量评价光学遥感器的偏振灵敏度,为光学遥感器仿真设计提供直接反馈,为光学遥感器的研制提供重要数据。
搜索关键词: 一种 口径 光学 遥感 器双扩束 级联 偏振 测试 系统
【主权项】:
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