[发明专利]二进制程序过程间静态污点分析方法及系统有效

专利信息
申请号: 202011151815.1 申请日: 2020-10-26
公开(公告)号: CN112016099B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 黄晖;陆余良;黄曙光;赵顺恺;甘桂华;赵军;钟晓峰;卢灿举 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F21/57 分类号: G06F21/57
代理公司: 中国和平利用军工技术协会专利中心 11215 代理人: 刘光德
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明的二进制程序过程间静态污点分析方法及系统,包括:二进制控制结构分析模块、到达定值分析模块和污点传播分析模块,其中,二进制控制结构分析模块计算预设目标程序的控制结构视图;到达定值分析模块基于所述控制结构视图,运算出目标程序内各个程序点的到达定值状态;污点传播模块按照所运算出的到达定值状态,计算出目标程序内各个程序点的污点状态。本发明依托于统一的上下文敏感、流敏感的过程间静态分析框架定制具体的分析算法;通过到达定值分析获取运行时各个机器位置对应的定值集合,提升间接跳转、指针别名的解析精度;在此基础上构建静态过程间污点分析引擎,由此提供针对二进制程序的静态全路径污点传播分析能力手段。
搜索关键词: 二进制 程序 过程 静态 污点 分析 方法 系统
【主权项】:
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