[发明专利]一种测量系统以及测量方法有效
| 申请号： | 202011156042.6 | 申请日： | 2020-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN112428265B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 姜峣;陈书清;易旺民;孟少华;李铁民 | 申请（专利权）人： | 清华大学;北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | B25J9/16 | 分类号： | B25J9/16;G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 李蒙蒙;龙洪 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测量系统以及测量方法，该测量系统包括：测量模组，包括相机和激光位移传感器；所述激光位移传感器用于测量从其测量基准点沿其激光出射方向到第一装配面上的一个测量点之间的距离；所述计算装置用于根计算出为使得所述第一装配面和所述第二装配面重叠所述第二部件需绕x轴转动的转角、绕y轴转动的转角以及沿z轴方向平移的平移量；所述相机用于拍摄所述特征组的特征组图片；所述计算装置还用于计算出为使得所述中点与所述参照点重合所述第二部件需沿x轴方向平移的平移量和沿y轴方向平移的平移量以及在所述中点和所述参照点重合后将所述特征组移动预设位置需绕z轴转动的转角。该测量系统测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 系统 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
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