[发明专利]联合物理噪声模型的高分辨率单光子成像方法与系统有效
| 申请号： | 202011157082.2 | 申请日： | 2020-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN112461360B | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 边丽蘅;宋昊泽;张军 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种联合物理噪声模型的高分辨率单光子成像方法与系统，其中，方法包括：建立单光子探测阵列的物理噪声模型；校准单光子探测阵列参数，对单光子探测阵列的光子探测效率、光子的泊松过程、探测阵列的串扰、后脉冲等噪声因素进行模拟；将高分辨率图片下采样成多张低分辨率图片并加入上述噪声模型，生成低分辨率的含噪数据集；搭建深度学习神经网络，将低分辨率含噪图片作为输入，将高分辨率图片作为真值，对网络进行训练，得到优化后的网络模型参数；最后使用训练好的网络从低分辨率含噪图片恢复出高分辨率无噪声图片。该方法联合实际物理模型，能够有效减少单光子探测阵列的测量噪声，同时有效提高单光子探测阵列的成像分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 联合 物理 噪声 模型 高分辨率 光子 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
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