[发明专利]一种反射式光学相控阵芯片及制造方法及激光扫描装置在审

专利信息
申请号: 202011160079.6 申请日: 2020-10-26
公开(公告)号: CN112490671A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 关健;徐松;闫敏 申请(专利权)人: 深圳奥锐达科技有限公司
主分类号: H01Q3/34 分类号: H01Q3/34;H01Q21/00;G02B27/00;H01Q1/38
代理公司: 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 代理人: 田志立
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种反射式光学相控阵芯片及制造方法及激光扫描装置,包括:基底、高反层、压电层、天线阵列以及换能单元;其中,所述高反层设置在所述基底与所述压电层之间;所述天线阵列包括多个纳米天线元件,所述多个纳米天线元件以周期性图案布置在所述压电层上;所述纳米天线元件的高度可调节,以用于改变所述天线阵列的相位;所述换能单元设置在所述压电层上,且布置在所述天线阵列的周围。本发明相控阵芯片设置压电层,在压电层布置多个纳米天线元件形成的天线阵列,通过对纳米天线元件的高度调节,以调节天线阵列的出射相位,当光束直接入射到天线阵列上时,即可对光束进行控制,结构简单、灵活性好。
搜索关键词: 一种 反射 光学 相控阵 芯片 制造 方法 激光 扫描 装置
【主权项】:
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