[发明专利]一种可改善片内色差的新型石墨框在审
申请号: | 202011161443.0 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112234007A | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 饶海峰;沈传进;许天红;张峰;孙小龙;陈兆民 | 申请(专利权)人: | 金寨嘉悦新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;H01L31/18 |
代理公司: | 合肥信诚兆佳知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34159 | 代理人: | 崇鑫 |
地址: | 237000 安徽省六安市金寨现代产*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种可改善片内色差的新型石墨框,包括石墨框,石墨框的内部设置有多个整齐排列的工位框,工位框上开设有放置槽,放置槽的四周内壁固接有放置框,放置框上固接有防护框,防护框的内圈与放置框的内圈存在用于放置电池片的间隙、且为倾斜设置,倾斜角度为25°。本发明通过在放置框上设置防护框,防护框的内圈为倾斜设置,电池片固定在放置框上时,从而增加防护框的内圈侧边与电池片之间的距离,减小了电池片与防护框之间的接触面积,达到改善色差的效果,通过在防护框内设置可活动的石墨垫块,通过驱动机构带动石墨垫块滑动并远离电池片,达到进一步增加防护框的内圈侧边与电池片之间距离的效果,从而达到充分改善色差的效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 改善 色差 新型 石墨 | ||
【主权项】:
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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